常用的粒度測量方法及其優(yōu)缺點(diǎn)分析
點(diǎn)擊次數(shù)：7852 發(fā)布時(shí)間：2019-04-15
粒度是指顆粒的大小，用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比叫粒度分布。常用的粒度測量方法及其優(yōu)缺點(diǎn)：
1、篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
2、顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無法測超細(xì)顆粒。
3、沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。 缺點(diǎn)：測試時(shí)間較長。
4、電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。 缺點(diǎn)：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
5、電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
6、超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測量。 缺點(diǎn)：分辨率較低。
7、透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測磁性材料粉體。 缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。
8、激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測量和干法測量。 缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高。
