【全新力作】多角度見證微觀世界，NS-180Z系列納米粒度電位分析儀實力登場！
“工欲善其事，必先利其器"，納米科學與技術作為國家戰(zhàn)略新興科技的核心賽道，2026 年正迎來產(chǎn)業(yè)化應用的全面提速。Mordor Intelligence?數(shù)據(jù)顯示，2026 年全球納米材料市場規(guī)模達 481.2 億美元；據(jù)探角行業(yè)報告，2025 年中國納米材料全產(chǎn)業(yè)規(guī)模已破 5000 億元、占全球 30% 以上，2026-2030 年仍將保持 13.5% 復合增長，新能源、生物制藥、精細化工成為核心驅動領域。
納米 zeta 電位測量是納米材料研發(fā)、生物制藥制劑優(yōu)化、精細化工生產(chǎn)的核心技術，360 Research Reports 數(shù)據(jù)顯示，2026 年全球 zeta 電位分析儀市場規(guī)模預計達 72.29 億美元，材料科學、制藥配方、精細化工等領域超 60% 的核心實驗與質量控制均依賴該技術。它如同納米世界的 “電荷導航儀"，精準解析顆粒表面電荷特性，為產(chǎn)品性能優(yōu)化、工藝研發(fā)提供關鍵科學依據(jù)。
2026 年，納米材料、生物制藥及精細化工領域的樣品復雜性日益增加 —— 從極低濃度的蛋白質單體到高濃度的鋰電池漿料，從易聚集的膠體到強熒光的量子點，對測量儀器的適配性、精準度要求持續(xù)提升。NS-180Z Plus/Pro 專為前沿科研與高端工業(yè)質檢打造，是旗艦級納米粒度及 zeta 電位分析儀，它不僅是精密測量設備，更是實驗室中值得信賴的 “納米數(shù)據(jù)專家"。
▲ NS-180Z系列納米粒度電位分析儀
廣泛的應用領域與行業(yè)適應性
OMEC
NS-180Z Plus/Pro的設計初衷即為“通用性"。它不僅僅是一臺物理實驗室的儀器，更是跨行業(yè)解決方案的核心設備。憑借其卓越的性能，廣泛應用于生命科學、新能源、新材料、化工等多個前沿領域，成為推動行業(yè)技術進步的關鍵工具。
學術與科研
在高校和研究所，NS-180Z Plus/Pro 是納米材料、膠體化學及生物物理研究的基礎工具 。其高靈敏度允許研究人員探測極微量的樣品，這對于合成初期珍貴的納米材料至關重要。
生命科學與制藥
蛋白質穩(wěn)定性研究：在抗體藥物（mAb）研發(fā)中，NS-180Z Plus/Pro 可監(jiān)測不同pH值、離子強度、溫度條件下的粒徑變化，早期發(fā)現(xiàn)聚集風險，輔助處方篩選與工藝優(yōu)化。其高靈敏度可檢測出微小的構象變化。
病毒載體表征：針對腺相關病毒（AAV）、慢病毒等基因治療載體，測定病毒滴度、空實殼比例與粒度的關聯(lián)性，評估純化工藝效果，確?；蛩幬锏挠行浴?/span>
脂質體與mRNA疫苗：在mRNA疫苗研發(fā)中，脂質納米顆粒（LNP）的粒徑均一性與zeta電位直接決定包封率與體內遞送效率。NS-180Z Plus/Pro 可直接測量原液，真實反映LNP狀態(tài)，助力疫苗快速上市。
輔料與添加劑質控：對表面活性劑、聚合物輔料進行分子量與粒徑篩查，確保原料質量一致。
納米材料與精細化工
碳納米材料：評估石墨烯、碳納米管的剝離效果、粒徑分布及功能化改性程度，優(yōu)化制備工藝。
納米乳液與化妝品：預測乳液、面霜、精華液的貨架期穩(wěn)定性。通過zeta電位快速篩選乳化劑配方，防止分層、絮凝，提升產(chǎn)品質感。
顏料與油墨：控制噴墨打印墨水、汽車漆中顏料顆粒的粒徑分布，確保打印流暢性、色彩飽和度與涂層光澤度。
環(huán)境科學：監(jiān)測水體中納米污染物（如微塑料、金屬氧化物納米顆粒）的遷移轉化行為，評估生態(tài)風險。
新能源與鋰電池材料
正負極漿料原位分析：直接測量高固含量（>30%）的鋰電漿料，無需稀釋，真實反映顆粒分散狀態(tài)與團聚情況，指導分散劑選型與研磨工藝，提升電池倍率性能與循環(huán)壽命。
陶瓷隔膜涂層：監(jiān)控氧化鋁、勃姆石等陶瓷顆粒的粒徑分布與zeta電位，防止團聚導致的涂層不均，消除電池針刺隱患，提升安全性。
電解液添加劑研究：在高電導率電解液環(huán)境中，利用恒流模式準確測量添加劑顆粒的zeta電位，優(yōu)化配方穩(wěn)定性。
樣品濃度適應性
高靈敏度與寬動態(tài)范圍
OMEC
測量范圍的寬窄和靈敏度的高低是評價光散射儀器性能的核心指標，也是難以兼顧的難題。傳統(tǒng)檢測技術在面對高濃度或不透明樣品時，常因多重散射效應導致數(shù)據(jù)失真，迫使實驗人員進行繁瑣且可能引入誤差的稀釋操作。稀釋過程可能會破壞顆粒原有的分散狀態(tài)或雙電層結構。
NS-180Z Plus/Pro引入了馬爾文帕納科專利的NIBS非侵入背散射光學技術，檢測角度固定在173°大角度背散射位置。它在不影響性能的情況下較大程度地擴大動態(tài)范圍，提高儀器靈活性，從而在確保高靈敏度的同時達到樣品處理濃度、顆粒大小測量的極限。即使是處理高濃縮樣品，也能實現(xiàn)高靈敏度。
專利NIBS技術使儀器更靈敏
在背向173o檢測樣品散射光，樣品散射體積是傳統(tǒng)90o下的8倍，在有效避免池壁反射的同時能夠得到更多散射光強。
更高的靈敏度使儀器能夠檢測極低濃度至0.2 mg/mL的樣品。
智能化樣品測量定位系統(tǒng)，極大降低了多重光散射效應，可以有效檢測濃度高至40% w/v的樣品。
▲ 專利非侵入背散射（NIBS）技術
檢測點可以在樣品池中間到邊緣的任意位置移動
復雜介質中的zeta電位金標準
M3-PALS + 恒流模式
OMEC
Zeta電位是表征膠體分散體系穩(wěn)定性的關鍵指標。在實際應用中，許多樣品處于高鹽濃度（如生理鹽水緩沖液、細胞培養(yǎng)液）或低介電常數(shù)溶劑（如某些有機合成體系）中。傳統(tǒng)PALS相位分析光散射恒壓模式（Constant Voltage）技術在高鹽環(huán)境下易受電極極化影響，導致測量誤差增大。高電導率會導致電流過大，產(chǎn)生焦耳熱效應，引起樣品對流，干擾電泳遷移率的測量；或者為了限制電流而降低電壓，導致電場強度不足，顆粒遷移速度過慢，信噪比極差，無法獲得有效數(shù)據(jù)。
NS-180Z Plus/Pro搭載了馬爾文帕納科專利的 M3-PALS，混合模式相位分析光散射 技術與恒流模式（Constant Current Mode），徹底解決了電泳光散射測量的難題。
▲ 傳統(tǒng)PALS電泳的電滲效應 VS M3-PALS電泳不受電滲影響
▲ 恒流模式下的電壓變化
智能算法與數(shù)據(jù)分析
自相關智能算法及動態(tài)采樣
OMEC
動態(tài)光散射的數(shù)據(jù)質量取決于對光強的采集和自相關計算。
傳統(tǒng)方法往往采用固定的采樣時間策略，可能導致時間不足（數(shù)據(jù)噪聲大），或為了獲得高質量數(shù)據(jù)而時間過長（效率低），且難以平衡“快速篩查"與“精細分析"的需求。此外，樣品中若存在微量大顆粒（如灰塵、團聚體），往往會掩蓋主峰信號，導致結果偏差。
NS-180Z Plus/Pro搭載的自相關智能算法引擎采用動態(tài)采樣策略。系統(tǒng)實時分析光子計數(shù)統(tǒng)計特性，動態(tài)調整相關器的采樣時間窗口和累積次數(shù)。對于單分散性好的樣品，自動縮短測量時間，最短子測量時間可縮短至1.68s；對于多分散或弱信號樣品，自動延長采集時間以確保信噪比。這種“因樣而異"的策略，使整體測試效率提升 50% 以上。實現(xiàn)了速度與質量的平衡 。
▲ 軟件自動優(yōu)化測量過程
典型測試案例
OMEC
良好的重現(xiàn)性
▲ 60nm標號乳膠微球標樣（Thermal，標稱值：62±3nm）
卓越的分辨力
▲ 60nm、200nm雙標樣混合樣品
極限小分子粒徑測試及穩(wěn)定的團聚體檢出
▲ 25%蔗糖溶液
Zeta電位和電位分布的測量
▲ ZTS1240電位標樣
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