歐美克參加第八屆全國顆粒測試學(xué)術(shù)會(huì)議
2011年10月12日，第八屆全國顆粒測試學(xué)術(shù)會(huì)議暨中國粉體工業(yè)發(fā)展年會(huì)在四川成都召開。大會(huì)開幕式由中國顆粒學(xué)會(huì)顆粒測試專業(yè)委員會(huì)主任、北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)理事長胡榮澤教授主持，會(huì)議主要對(duì)顆粒測試的研究成果、顆粒測試設(shè)備發(fā)展的動(dòng)態(tài)進(jìn)行了深入的討論。
歐美克研發(fā)部系統(tǒng)工程師陳進(jìn)博士做了題為“激光粒度儀測量窗口全反射現(xiàn)象對(duì)粒度測量的影響”學(xué)術(shù)報(bào)告，報(bào)告闡述了激光粒度儀測量窗口的全反射對(duì)粒度測量結(jié)果的影響。結(jié)論是：在顆粒測試時(shí)，受全反射影響的粒度范圍在0.1~1.0微米之間。而在儀器光路的設(shè)計(jì)階段如能采取措施減少或消除全反射現(xiàn)象的影響，則儀器在上述范圍的測量精度可顯著改善。這一理論，引發(fā)了會(huì)議現(xiàn)場專家、學(xué)者的興趣，爭相咨詢?cè)摾碚撛趯?shí)際應(yīng)用過程中的技術(shù)性問題。陳博士都一一悉心回答。深入的理論研究和積極學(xué)術(shù)交流一定會(huì)給歐美克儀器的發(fā)展帶來更深刻的影響。
另外，在同期舉辦的的中國粉體工業(yè)發(fā)展年會(huì)上，歐美克激光粒度儀易賽20獲得由中國粉體網(wǎng)和北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)共同頒發(fā)的“2011-2012年度產(chǎn)品”獎(jiǎng)，這是該產(chǎn)品問世以來第5次獲得全國性媒體或者政府機(jī)構(gòu)授予的獎(jiǎng)勵(lì)。
顆粒測試會(huì)議現(xiàn)場
歐美克公司陳進(jìn)博士做學(xué)術(shù)報(bào)告
